檢索結果：共11筆資料 檢索策略： "back-propagation neural network".ekeyword (精準) and cdept.raw="自動化及控制研究所"
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本研究旨在建立一套標準的調配方式作為快速取得表面強化拉曼散射效應 (surface enhanced Raman scattering, SERS) 的檢測基底。現今科學家對於人類基因的研究越來越重…
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本研究係發展一套發光二極體(light emitting diode, LED)自動光學檢測(automatic optical inspection, AOI)系統，應用機器視覺與倒傳遞類神經網路…
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本研究提出一套IC雷射印字辨識與印字瑕疵的檢測系統，以達到高辨識率與高效能的表現，檢測系統可區分為三個流程：IC膠體定位、字元切割與辨識及印字瑕疵檢測流程。IC的膠體定位，利用投影量變化找出IC的位…
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本研究應用影像處理技術及分類方法於液晶顯示器(liquid crystal display, LCD)偏光膜(polarizing film)的瑕疵檢測與分類。因偏光膜產業的競爭越來越激烈，然而目前…
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本研究主要針對薄膜電晶體液晶平面顯示器(thin film-liquid crystal display, TFT-LCD)模組瑕疵進行辨識與分類，檢測TFT-LCD模組瑕疵種類分為異物(forei…
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網路電話的語音品質的問題是自網路電話開始發展之後就一直被提出來研究的課題，然而現今的分散式網路架構基於頻寬共享的特性，只有提供“盡力而為“的網路服務，對於資料延遲較敏感應用程式，如網路電話，其語音品…
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本研究使用複迴歸(本論文簡稱MR)及倒傳遞類神經網路(本論文簡稱BPNN)，預測對本案例冰水主機建立耗電量模型，並且比較此兩種方法在整年度冰水主機耗電量樣本數，經過資料收集及刪除不合理數據預…
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本研究主要針對彩色濾光片微觀瑕疵進行辨識與分類，檢測的瑕疵種類分為微粒(Grain)、黑色矩陣破洞(Black Matrix Hole, BMH)、透明導電膜(Indium Tin Oxide, I…
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在半導體的先進製程中，對準誤差量測技術(Overlay Metrology)為關鍵的製程步驟，準確地測量出積體電路層與層之間的對準誤差(Overlay)，可以有效減少製程的重工率進而降低製程成本。D…
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平板式集熱器之製程參數為影響其性能之關鍵，而設計及製造平板式集熱器時，影響平板式集熱器性能的關鍵製程參數為集熱管材質、吸熱板材質、集熱管數量、集熱管管徑、吸收膜使用類型及底部保溫材厚度等六種，品質特…